Modélisation semi-analytique d'un système de CND-CF pour la caractérisation d'un défaut dans la structure d'un matériau conducteur

Abstract

Dans ce mémoire, nous présentons une modélisation semi-analytique d'un système de contrôle non destructif par courants de Foucault pour la caractérisation d'un défaut dans la structure d'un matériau conducteur. L’objectif principal est d’aboutir à l’expression semi analytique de l’impédance du capteur en fonction de la largeur et la profondeur du défaut à l’aide d’un capteur à double fonction. Avant d’entamer la modélisation une recherche bibliographique a été menée sur les différentes techniques utilisées ainsi que les principes physiques intervenants. Les capteurs de contrôle non destructif par courant de Foucault sont souvent classés selon leurs géométries, leurs fonctions et leurs modes de contrôle. Dans un premier temps, les phénomènes inductifs mis en jeu dans le CND-CF sont décrits par les équations des circuits couplés. Ensuite, une expression semi analytique est donnée explicitement en fonction des paramètres du défaut surfacique considéré. Pour mieux comprendre l’effet de chacun d’eux sur l’impédance du capteur et la fréquence du champ d’excitation, nous élaborons plusieurs simulations sous le logiciel Matlab. Les résultats montrent que la signature augmente avec l’augmentation du volume affecté. D'autre part, ces défauts sont bien captés lorsque la fréquence est élevée.