Diagnostic de Fonctionnement par Analyse en Composantes Principales Multi-Echelles

Abstract

Dans le cadre général de la surveillance des systèmes, plusieurs méthodes de détection de défauts ont été développées. Le présent travail, traite de la modélisation et du diagnostic des défaut dans les processus industriels. L’approche utilisée dans ce travail s’appuie sur l’analyse en composantes principales multi-échelle. Cette approche fait la combinaison de l’analyse en composantes principales et de la transformée en ondelette. Les processus réels sont de nature multi échelles, changent dans le temps et/ou en fréquence. Ceci, nécessite que les variables représentant ces processus sont mesurées à des différents niveaux de prélèvement. En conséquence, l’analyse en composantes principales conventionnelle ne peut pas modéliser des données qui sont de nature "multiscale". Les ondelettes sont les outils naissants pour décomposer un signal dans diverses bandes de fréquence fournissant l’analyse simultanée dans deux domaines temps et fréquence. Ceci peut faciliter l’application de l’ACP sur les diverses niveaux de fréquence. Les méthodes " multiscale " sont employées pour améliorer les problèmes de compression, de filtrage et de sensibilité à la détection de défauts.