ASYMÉTRIES DES RAIES SPECTRALES : COMPARAISON DES DIFFÉRENTS FORMALISMES

Abstract

L’asymétrie des raies spectrales se fitte correctement par un profil lorentzien classique sur la partie « basses fréquences » de la raie et d’un profil lorentzien de demie largeur plus grande sur la partie « hautes fréquences ». Cette approche est nouvelle par rapport à la littérature existante. Par ailleurs, plusieurs formalismes existent pour expliquer le profil d’une raie spectrale, bien que les distributions des fréquences obtenues par chacun de ces formalismes soient différentes. C’est le cas, par exemple, du formalisme de Baranger[1] où l’asymétrie est prise en compte par un seul terme dispersif non lorentzien de la forme : (ω − ω0 )

(ω − ω0

)2 + γ 2

(1)

où ω0 et γ sont la fréquence centrale et la largeur d’une composante de la raie, par contre dans le formalisme de Kolb-Griem[2], le terme d’asymétrie est introduit par un ensemble de lorentziennes de largeurs différentes augmenté par autant de termes dispersifs. Soit, dans le cas d’un doublet, quatre lorentziennes et quatre termes dispersifs analogues à celui de Baranger. Nos fits, sur le doublet λ334nm du silicium une fois ionisé, montrent qu’il est toujours possible de reproduire correctement le profil expérimental à l’aide de ces différentes approches avec un choix raisonnable des paramètres (largeurs, fréquences centrales, facteurs de déplacement, etc.) caractérisant chacune des composantes du doublet.