Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.univ-ouargla.dz/jspui/handle/123456789/19651
Title: | Etude des critères de la rugosité en tournage à sec de l’acier AISI 1045 par logique floue |
Authors: | RACHEDI, Saad Eddine BACHIRI, Khir Eddine BENTALEB, Fayçal |
Keywords: | tournage les paramètres de coupes la rugosité - logique flou |
Issue Date: | 15-Nov-2018 |
Series/Report no.: | 2018;gh |
Abstract: | Dans cette étude nous avons présenté la technique de la logique floue pour étudier les critères de la rugosité en fonction des paramètres de coupe pendant le tournage de l’acier AISI 1045. Nous avons développé un modèle de trois entrées (Vc, f et ap) et trois sorties (Ra, Rt et Rz). Après la comparaison entre les résultats obtenus en utilisant des fonctions d’appartenance triangulaires et trapézoïdales ; et on se basant sur les résultats des écarts types obtenus, les résultats proches aux résultats expérimentaux sont celles obtenues avec des fonctions d’appartenances trapézoïdales. Par la comparaison entre les résultats obtenus à partir de la logique floue et les résultats expérimentaux, nous avons trouvé que le pourcentage d'erreur est (Ra : 3.45%, Rt : 3.04%,Rz : 3.14%) ce dernier correspond à un pourcentage de précision de (Ra : 96.54%, Rt : 96.95%, Rz : 96.85%). Les résultats des tests obtenus ont montré que le modèle floue proposé peut être utilise pour étudier les critères de la rugosité en tournage de l’acier AISI 1045. |
Description: | UNIVERSITE KASDI MERBAH OUARGLA Faculté des Sciences Appliquées Département de GénieMécanique |
URI: | http://dspace.univ-ouargla.dz/jspui/handle/123456789/19651 |
Appears in Collections: | Département de Génie Mécanique Mastériales |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Etude des critères de la rugosité en tournage à sec de l’acier AISI 1045 par logique floue . poster.pdf | 549,39 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.