تحليل عينة صخرية من منطقة ورقلة بالاعتماد على الطرق الطيفية

Abstract

قمنا في هذا العمل بدراسة عينة صخبرية من منطقة ورقلة بالإحداثيات الجغرافية (y=31.80, x=5.54) ، وتمَّ تحديد التركيب الكيميائي لهذه العينة الصخبرية باستعمال طرق التحليل الطيفي: انعراج الأشعة السينية ) XRD (و فلورة الأشعة السينية) XRF ( و مطيافية امتصاص الأشعة تحت الحمراء ) FTIR (. من خلال مخطط انعراج الأشعة السينية و طيف امتصاص الأشعة تحت الحمراء تبين أن هذه العينة تتكون بتركيز α- أساسا من الكوارتز % 61 كما تحتوي على مركبات أخرى بتراكيز ضعيفة نسبيا. و أظهرت تقنية (XRF) تراكيز العناصر الكيميائية المكونة للعينية بشكل تركيز ذري ولقد تبين أنها تحوي %24.07 من المغنسيوم و % 21.73 من السيلكون بالإضافة إلى الانديوم % 11.68 و الروديوم ب % 14.41 بينما العناصر الأخرى ظهرت بنسب ضعيفة، وبالتالي يمكن الاستغلال والاستفادة من مختلف المواد التي تحويها في العديد من التطبيقات التكنولوجية الجديدة.

In this work, a rock sample from the region of Ouargla is investigated in a geographic position (y=31.80,x= 5.54). Structure and chemical compositions of the sample were determined by ray diffraction X, X-ray fluorescence technique (XRF), and also infrared spectroscopy that giving the absorption spectrum (FTIR). The results found show that this rock sample is mainly composed of α-quartz with a concentration of 69% and also contains other components with relatively low concentrations. The XRF revealed the chemical elements concentrations of the sample (24.07% magnesium, 21.83% silicon, 19.77% Indium and 14.40% Rhodium) with a low concentration for other chemical elements. Therefore, the exploitation of these materials is possible in many new technological applications