Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.univ-ouargla.dz/jspui/handle/123456789/22232
Title: تحليل عينة صخرية من منطقة ورقلة بالاعتماد على الطرق الطيفية
Authors: بوشعالة, عفاف
بن مبروك, لزهر
Keywords: الأطياف
الأطياف
FTIR
XRD
XRF
Issue Date: 30-Jun-2019
Abstract: قمنا في هذا العمل بدراسة عينة صخرية بغرض تعيين وتحديد التركيب الكيميائي والبنيوي للصخر. وبالتالي الاستغلال والاستفادة من مختلف المواد التي تحويها هذه الصخور في العديد من المجالات.حيث سنعتمد على طرق التحليل الطيفي ومن بينها FTIR، XRD، XRF والتي ترتكز على تسليط أشعة محددة على الصخر الذي يتعين دراسته والتحليل الطيفي للضوء المنبعث.
Description: جامعة قاصدي مرباح ـ ورقلة ـ كلية الرياضيات وعلوم المادة قسم الفيزياء
URI: http://dspace.univ-ouargla.dz/jspui/handle/123456789/22232
Appears in Collections:département de physique Mastériales

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
بوستار.pdf3,53 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.