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dc.contributor.authorBelkacem FERHAT , Youssef AZZOUZ , Roland REDON , Marc RIPPERT-
dc.date.accessioned2013-12-19T15:25:12Z-
dc.date.available2013-12-19T15:25:12Z-
dc.date.issued2013-12-19-
dc.identifier.issnsam.-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/2932-
dc.descriptionSéminaire National sur le Laser et ses Applications UKM Ouargla 16 et 17 Décembre 2009en_US
dc.description.abstractUn claquage de faisceau laser sur du silicium solide pur crée un plasma source de spectres d’émission. La température a varié de 14000 à 18000 K et la densité électronique de 5 1017 à 2.5 1018 cm-3. La technique spectrométrique et la méthode numérique de traitement des raies permettent d’enregistrer et de traiter des raies de très faible intensité. Les probabilités de transition du silicium une fois ionisé à λ 399 nm sont mesurées expérimentalement pour la première fois. Ces valeurs n’ont pas pu être comparées à d’autres valeurs expérimentales par absence totale de données publiées. Les valeurs théoriques sont elles-mêmes approximativesen_US
dc.language.isofren_US
dc.subjectDES PROBABILITÉSen_US
dc.subjectTRANSITION DU SILICIUM λ399 nmen_US
dc.titleDÉTERMINATION EXPÉRIMENTALE DES PROBABILITÉS DE TRANSITION DU SILICIUM λ399 nmen_US
dc.typeArticleen_US
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