Please use this identifier to cite or link to this item: https://dspace.univ-ouargla.dz/jspui/handle/123456789/16989
Title: تأثير التركيز المولي لنترات النيكل على بعض الخصائص الفيزيائية )NiO( للطبقات الرقيقة لأكسيد النيكل
Authors: غربي، إبراهيم
قجة،مرية
Keywords: الأكاسيد الشفافة الناقلة أكسيد النيكل
تقنية الرش الكيميائي الحراري
Issue Date: 2017
Publisher: جامعة قاصدي مرباح ورقلة
Abstract: )C=0.05,0.1,0.15,0.2 mol/l ( بسكنا في ىذا العمل من برضتَ طبقات رقيقة من أكسيد النيكل بتًاكيز لستلفة 450 ، فمن خلال دراستنا الضوئية تبتُ لنا من خلال أطياف النفاذية C° بواسطة تقنية الرش الكيميائي عند درجة حرارة للطبقات الرقيقة أف ىذه الأختَة بستلك شفافية عالية في المجال الدرئي.في حتُ أف الدراسة الكهربائية بينت لنا أف ىذه الطبقات لذا كبستلك ناقلية كهربائية جيدة c=0.05mol/l أحسن قيمة للنفاذية (% 67 ) كىي تلك التي تقابلها أقل قيمة للتًكيز أم عند 0.20 . أما بخصوص الخصائص البنيوية فلم نتمكن من الحصول على النتائج الدطلوبة لأف الطبقات الرقيقة mol/l عند التًكيز غيىر متبلورة.
Dans cette étude on a préparé de films minces de NiO à différents valeurs de concentrations (C=0.05,0.1,0.15,0.2 mol/l) par la technique de spray pyrolyse sur le verre sous de 450 C°, a partir de notre étude optique et de spectres de la transmitance des couches minces. nous concluons que les couches minces possèdent une grande transmitance à la lumière visible, et l’étude électrique nous a montré que ces couches aient la meilleure valeur pour la transmitance (% 67 ) ce qui a compensé la moins valeurs de la concentration (c=0.05 mol/l) et avec une bonne valeur de conductivité électrique à la concentration 0.20 mol/l. et pour les caractéristiques structurales iln’y a aucune résultat en raison de l’absence de bonne cristallisation. Mots clé : TCO, oxyde de Nikel, techniques de spray pyrolyse.
Description: فيزياء الإشعاعات ، كاشف و بصريات إلكترونية
URI: http://dspace.univ-ouargla.dz/jspui/handle/123456789/16989
Appears in Collections:département de physique - Master

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
gaja-maria.pdf2,76 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.