دراسة عينة من صخور منطقة ورقلة بواسطة التقنيات الطيفية

Abstract

في هذا العمل ، درسنا التركيب الكيميائي لعينة من الصخور الواقعة بين منطقة ورقلة وحاسي مسعود في الجزائر بالموقع الجغرافي (31.8025،05.5395) ، وقد تم تحليل العينات المحضرة بواسطة حيود الأشعة السينية ، بواسطة التحليل الطيفي بالأشعة تحت الحمراء للحصول على طيف الامتصاص (FTIR) وأيضًا بواسطة تقنية الفلورة بالأشعة السينية (XRF) حيث اعطتنا هذه الأخيرة النسبة المئوية للعناصر الكيميائية الموجودة بالعينة ، وتبين النتائج أن النسبة المئوية الأعلى هي السيليكون (21.82٪) ،علما أن تأكسد السيليكون يعطي الكوارتز ، وتم تأكيد وجود الكوارتز بشكل جيد إما عن طريق تقنية XRD ، والتي أعطت التركيب البلوري للكوارتز أو بواسطة تقنية FTIR التي أظهرت مجموعته الوظيفية ، النتائج التي تم التوصل اليها سمحت لنا ايضا بتصنيف عينتنا ضمن الصخور الرسوبية. .الكلمات المفتاحية :DRX،XRF، FTIR ،الصخور ،المواد البلورية In this work, we studied the chemical composition of a sample of rocks located between Ouargla and Hassi Messaoud in Algeria at the geographical position (31.8025,05.5395), the prepared samples were analyzed by X-ray diffraction, by infrared spectroscopy to obtain the absorption spectrum (FTIR) and also by the X-ray fluorescence technique (XRF), the latter is given the percentage of the chemical elements in our samples, it was found that, the highest percentage is silicon (21.82%), the oxidation of silicon gives the quartz, the presence of the quartz is well confirmed by the technique of the XRD, which gave the crystalline structure of the quartz, the FTIR spectroscopy gives the functional group of the samples, and allowed us to classify our sample in sedimentary rocks. Key words :XRD, XRF, FTR, rocks, crystalline materials