Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.univ-ouargla.dz/jspui/handle/123456789/22088
Title: تحليل عينة صخرية من منطقة ورقلة بالاعتماد على الطرق الطيفية
Authors: بوشعالة, عفاف
بن مبروك, لزهر
Keywords: المطيافية
الصخور
حيود الأشعة السينية
فلورة الأشعة السينية
مطيافية الأشعة تحت الحمراء
Issue Date: 30-Jun-2019
Abstract: قمنا في هذا العمل بدراسة عينة صخبرية من منطقة ورقلة بالإحداثيات الجغرافية (y=31.80, x=5.54) ، وتمَّ تحديد التركيب الكيميائي لهذه العينة الصخبرية باستعمال طرق التحليل الطيفي: انعراج الأشعة السينية ) XRD (و فلورة الأشعة السينية) XRF ( و مطيافية امتصاص الأشعة تحت الحمراء ) FTIR (. من خلال مخطط انعراج الأشعة السينية و طيف امتصاص الأشعة تحت الحمراء تبين أن هذه العينة تتكون بتركيز α- أساسا من الكوارتز % 61 كما تحتوي على مركبات أخرى بتراكيز ضعيفة نسبيا. و أظهرت تقنية (XRF) تراكيز العناصر الكيميائية المكونة للعينية بشكل تركيز ذري ولقد تبين أنها تحوي %24.07 من المغنسيوم و % 21.73 من السيلكون بالإضافة إلى الانديوم % 11.68 و الروديوم ب % 14.41 بينما العناصر الأخرى ظهرت بنسب ضعيفة، وبالتالي يمكن الاستغلال والاستفادة من مختلف المواد التي تحويها في العديد من التطبيقات التكنولوجية الجديدة.
Description: جامعة قاصدي مرباح – ورقلة- كلية الرياضيات وعلوم المادة قسم الفيزياء
URI: http://dspace.univ-ouargla.dz/jspui/handle/123456789/22088
Appears in Collections:département de physique - Master

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
bouchaala-afaf.pdf2,55 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.