Please use this identifier to cite or link to this item: https://dspace.univ-ouargla.dz/jspui/handle/123456789/29917
Title: دراسة نظرية حول طرق تشخيص المحفزات الضوئية النانوية
Authors: علاوي, عبد الفتاح
أماني, صفاء
Keywords: FTRI .
تشخيص المحفزات الضوئية
المحفزات الضوئية النانوية
DRX
Issue Date: 2022
Publisher: جامعة قاصدي مرباح ورقلة
Abstract: هذا العمل هو دراسة نظرية حول طرق تشخيص المحفزات الضوئية النانوية، من خلال نتائج الدراسات السابقة المتعلقة بهذه التقنيات، بينت أنه هناك عدة طرق حديثة منها تقنية المجهر الالكتروني الماسح(SEM) لدراسة أسطح المادة ونوعية وكمية المواد الكيميائية ، ومطيافية ما تحت الحمراء بتحويل فورييه(FTIR) لتحديد طبيعة الارتباط، أما الأشعة السينيةXDR)(تعمل على دراسة الخصائص الهيكلية والبلورية وتركيب المواد،ومطيافية الأشعة فوق البنفسجية- المرئية(UV-Vis)ومطيافية رمان من بين هذه الطرق .
Ce travailest une étude théorique sur les méthodes de la caractérisation des nanophotocatalyseurs. A travers les résultats des études précédentes liées à ces techniques, il a été montré qu'il existe plusieurs méthodes modernes tel que spectroscopie UV –Vis , Raman pour identifier les liaisons et la structure de photocatalyseur . La technique de microscopie électronique à balayage (MEB) pour étudier les surfaces du matériaux , la qualité et la quantité des produits chimiques, la spectroscopie infrarouge par la transformation de Fourier (FTIR) pour identifier les groupes fonctionnels chimiques d’une substance. La diffraction des rayons X (DRX) permet d’identifier les composés cristallisés présents dans un matériau ansi que leurs formes cristallographique .
This work is a theoretical study of different photocatalyst characterization techniques. Through the results of the previous study related to these techniques, it was shown that there are several modern methods, such as UV-Vis spectroscopy, Raman to identify the bonds and structure of nanophotocatalysts. The scanning electron microscopy technique(SEM) to study the surfaces of the material, the quality and quantity of chemical products, Fourier transform infrared spectroscopy (FTRI) to identify the chemical functional groups of a substance , X-ray Diffraction spectroscopy(XRD) allows identity of the crystalline compounds present in a material as well as their crystallographic forms
Description: كيمياء تحليلية
URI: https://dspace.univ-ouargla.dz/jspui/handle/123456789/29917
Appears in Collections:Département de chimie - Master

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
AMANI-SAFA.pdf2,25 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.